一、濕敏水淮MSL的認證與升級
(一)、認證MSL
PCB線路板正式取得濕敏水淮(MSL)的過程。凡尚未經(jīng)認證的新品,均須從Table-1中最低水淮(Level 6〉做起,也就是當Level 6考試及格后,才能升級到Level 5a之水淮,與再級升到Level 5等。此種一直向上升級直到無法過關(guān)時,即宣告取得所屬的Level 1。
(二)、升級MSL
凡已被認證某Level 1的封件若欲再升級者,必須先行通過"額外的可靠度試驗"。此試驗共需先后二批共22個樣本,而二個批又須從兩個以上不連續(xù)生產(chǎn)批中去抽取。其各批產(chǎn)品之外觀應(yīng)儘量相同,且各生產(chǎn)批事先均須通過所有的製程。
每批中所抽取的11個樣本,亦需完成所有製程。進入升級考試之樣本,還須連續(xù)執(zhí)行了Table5-1表列之吸濕試驗,直到后續(xù)各種電測與目檢過關(guān)爲止。供應(yīng)商必須先行自我認證之肯定層級后,才能送交客戶再行層級之認證。
(三)、吸濕手法
Table5-1之內(nèi)容首先對某一水淮表列"吸濕條件"進行放置試驗,之后還要執(zhí)行各種電性試驗以及目檢,并完成"超音波掃瞄顯微鏡"(C-SAM)之檢查底線。但本規(guī)范之目的卻不是爲了初檢之"分層",而定其出允收或拒收的"淮則"。
待執(zhí)行試驗的封件,須先在125℃烤箱中烘烤24小時以除去水氣,使在已乾燥的情況下進行吸濕試驗。不過在執(zhí)行次高與最高水淮之試驗時,執(zhí)行"雙八五"吸濕的168小時〈7天)前,所需之烘烤除濕仍可斟酌情況而另定其他條件。
二、前段吸濕與后段回焊
(一)、吸濕試驗
將待吸濕試驗的半導體封件,放置于清潔乾燥的淺盤中,彼此不可接觸或重迭,全程都要遵守JESD625之規(guī)定,且應(yīng)避免"靜電傷害"的發(fā)生。下列Table 5-1之內(nèi)容即爲半導體封裝元件,共可區(qū)分爲八種濕敏水淮(MSL),于其開封后與完成組裝焊接前,在廠房環(huán)境條件中詳述其現(xiàn)場停留之時限,以及吸溼試驗的各項細部條件等。
(1)、 正常試驗須按所例之標淮條件,或按一般己知擴散活化能之0.4-0.48eV去進行。當試驗樣本經(jīng)前段吸濕與后段回焊后,一旦發(fā)生損傷或電性不良等失效情形者,才須再按表列右側(cè)之"加速性等值"條件再去進一步驗證,正常試驗不可採用此種加速條件。此種加速試驗之耗時,可按不同模封料與包封料之特性而予以機動變化。
(2)、表中之"標淮吸濕"時間,事實上已將半導體生產(chǎn)商,在烘烤除濕與入袋保存間前之"製造者暫曝時間"(MET),以及分銷商設(shè)施中離袋后之外露時間,兩者總共未超過24小時者可全數(shù)默認在內(nèi)。當實際MET不足24小時者,則其吸溼時間可予以縮短,亦即凡採“30℃/60%RH”之條件時,可縮短吸濕時間爲1小時。但若採30℃/60%RH時,凡其MET多了 1小時,則其吸溼時間也要增加1小時。一旦!^2丁超過24小時后,則其吸濕時間應(yīng)增加5小時。
(3)、供應(yīng)商一旦感到產(chǎn)品尚具冒險性而不安全時,則亦可延長其吸濕時間。
(二)、后段之回焊
當待試驗的封件樣本,從前段考試溫濕箱中取出的15分鐘后,但不可超過4 小時的規(guī)定時段中,其樣本須按Table 5-2與Table 5-1的詳細規(guī)定進行后段回焊考試,而且一共要通過三次考試。其每次回焊之間隔不可低于5分鐘,也不可超出1 小時。一旦樣本從溫濕箱取出后,在15分一 4小時之規(guī)定時段內(nèi)未能完成回焊者,則該樣本批號必須按前述做法重新進行烘烤與重新吸濕。
完成全部考試的封件,須先在40倍顯微鏡下進行目檢,以觀察是否出現(xiàn)破裂。然后再對所有樣本按型錄上的允收數(shù)據(jù)或廠內(nèi)既有規(guī)范,進行電測與是否及格的判決,最后還要用C-SAM進行內(nèi)部之破裂分析。
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